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1/F flicker noise
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
16:50
In this video we discuss the details of 1/f or flicker noise.
Noise - Lab
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
13:10
In this training lab we discuss calculations, simulations, and real world measurements that reinforce the concepts in the noise video series.
Input stage
日付:
所要時間：:
2015年 12月 4日
所要時間：:
19:28
In this video we discuss distortion sources from the op amp's input stage.
External sources
日付:
所要時間：:
2015年 12月 4日
所要時間：:
13:29
In this video we discuss external sources of distortion, such as resistors, capacitors, and power supply impedance.
Output stage
日付:
所要時間：:
2015年 12月 4日
所要時間：:
13:58
In this video we discuss distortion sources from an op amp's output stage.
Phase margin
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
13:04
In this video we provide a review of Bode plots and stability theory using phase margin and rate of closure analysis.
Stability - Introduction
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
08:23
In this video we discuss the common causes of op amp stability issues and how to identify these issues in the lab.
Spice simulation
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
06:30
In this video we explain how to perform open loop simulations in SPICE to obtain rate of closure and phase margin of op amp circuits.
Measuring system stability
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
07:48
In this video we explain how to perform indirect phase margin measurements in SPICE simulation and on the bench.
Capacitive loads
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
06:42
In this video we discuss why capacitive loads cause stability issues and present the isolation resistor compensation technique.
Isolation resistor
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
06:45
In this video we discuss the Riso with dual feedback stability compensation method.
Stability - Lab
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
14:50
In this training lab we discuss calculations, simulations, and real world measurements that reinforce the concepts in the stability video series.
Electrostatic discharge (ESD)
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
12:56
In this video we explain how ESD can damage semiconductor components and introduce internal ESD protection circuits in semiconductor devices.
Electrical overstress - Introduction
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
09:01
In this video we discuss the causes of electrical overstress and introduce methods to protect circuits against it.
Overstress protection
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
08:21
In this video we discuss more devices which are used for EOS protection such as TVS diodes, ferrite beads, and RC filters.
Selecting components
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
10:39
In this video we show how to select components for EOS protection, focusing on TVS diodes and current limiting resistors.
Testing for robustness
日付:
所要時間：:
2015年 3月 23日
所要時間：:
11:20
In this video we discuss how a device is damaged by transient electrical energy and introduce the tests used to determine a product's robustness against it.
Board level troubleshooting
日付:
所要時間：:
2018年 11月 26日
所要時間：:
14:52
In this video we discuss a technique known as the A-B-A swap, as well as an introduction to PCB parasitics and the importance of PCB cleanliness.
Troubleshooting tips: Op amps
This training highlights various techniques to assist with application problem-solving, debugging and datasheet measurements on our op amps.