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2018 測試與量測技術研討會

2018 測試與量測技術研討會會中特邀多位技術專家於會中分享最新 EMI 解決方案、剖析 SAR ADC 設計問題與解密 DAC 精密數位類比轉換器電路設計,並針對近期熱門機器視覺話題深入分享其關鍵應用與剖析設計挑戰。TI 亦針對實驗室儀器、數據採集、數位萬用表、AC/DC 電源等熱門儀器設備提供一系列完整的參考設計與解決方案。

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2018 測試與量測技術研討會