電子郵件

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part3

描述

2018年 8月 7日

ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

其他資訊

arrow-topclosedeletedownloadmenusearchsortingArrowszoom-inzoom-out arrow-downarrow-uparrowCircle-leftarrowCircle-rightblockDiagramcalculatorcalendarchatBubble-doublechatBubble-personchatBubble-singlecheckmark-circlechevron-downchevron-leftchevron-rightchevron-upchipclipboardclose-circlecrossReferencedashdocument-genericdocument-pdfAcrobatdocument-webevaluationModuleglobehistoryClockinfo-circlelistlockmailmyTIonlineDataSheetpersonphonequestion-circlereferenceDesignshoppingCartstartoolsvideoswarningwiki