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TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part2

描述

2018年 8月 7日
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤，以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料，以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器，以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

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