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排序方式：
TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域part1
日期:
時間長度:
2018年 8月 8日
時間長度:
15:03
認識頻域-介紹 FFT 和頻域規格（例如 SNR、THD）。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。
TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part2
日期:
時間長度:
2018年 8月 7日
時間長度:
13:06
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤，以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料，以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器，以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。
TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part4
日期:
時間長度:
2018年 8月 7日
時間長度:
07:54
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤，以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料，以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器，以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。
TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part3
日期:
時間長度:
2018年 8月 7日
時間長度:
16:22
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤，以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料，以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器，以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。
TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part1
日期:
時間長度:
2018年 8月 7日
時間長度:
15:31
ADC 錯誤來源:涵蓋系統偏移和增益錯誤，以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料，以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器，以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。
Synchronization of High Speed Multichannel JESD204B Compliant Clocks Part 3
日期:
時間長度:
2018年 7月 25日
時間長度:
11:22
Learn about the high channel count clocking solution.
Synchronization of High Speed Multichannel JESD204B Compliant Clocks Part 2
日期:
時間長度:
2018年 7月 25日
時間長度:
09:56
Learn about the JESD204B compliant high speed multichannel synchronized clocking architecture
How to synchronize high speed multi-channel clocks?
This training explains how to synchronize high speed multi-channel clocks used in high-speed end equipment with multi-channel transceiver system.
Precision DACs (<=10MSPS) – Learning center
The Precision DAC Learning Center is a collection of technical content that will help guide you through the precision DAC design process.
Synchronization of High Speed Multichannel JESD204B Compliant Clocks Part 1
日期:
時間長度:
2018年 7月 17日
時間長度:
07:50
Learn about the high speed multi-channel clocking requirements and challenges.
Power distribution for SoC and FPGA applications
In this training series, we examine the power requirements of SoC and FPGA devices and discuss the optimal approach to powering them for specific use cases.
Part V: Pre-Compliance EMC Tested Binary Input Module, TI design TIDA-00847
日期:
時間長度:
2018年 6月 4日
時間長度:
06:21
Introduction to Binary input Architecture and details of TIDA-00847 TI design
Wireless Multi-parameter Patient Monitor Demo
日期:
時間長度:
2018年 6月 1日
時間長度:
04:01
A simple, wearable, wireless, multi-parameter, patient monitor operated using coin-cell battery and supporting raw data over Bluetooth® 5
TI 高精度实验室 - 放大器系列
TI 高精度实验室 (TI Precision Labs)
Signal acquisition system using our high resolution SAR converters
The training describes a design for CW Doppler signal conditioning for an ultrasound machine that utilizes our 20-bit SAR ADC.
Overview of reference drive topologies
日期:
時間長度:
2018年 5月 11日
時間長度:
14:27
This video introduces the reference buffer and other reference drive topologies, and how they impact ADC performance.
TI 高精度实验室 – ADC系列视频
本系列课程包含以下几方面内容：数据转换器介绍、ADC输入驱动电路、误差与噪声、ADC 的频域指标、SAR ADC、SAR
Voltage reference overview for ADC
日期:
時間長度:
2018年 5月 11日
時間長度:
12:13
This section covers reference specifications, to gain a deeper understanding of how the voltage reference impacts the performance of the ADC system.
Introduction—Why isolation is necessary for using shunts in poly-phase systems
日期:
時間長度:
2018年 5月 7日
時間長度:
04:31
This module covers why isolation is necessary for using shunts in poly-phase systems.
Types of noise in ADCs
日期:
時間長度:
2018年 5月 1日
時間長度:
15:45
This video explains the difference between quantization noise and thermal noise.