注意:各項之間請以逗號分隔

例如 , 12/06/2021

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排序方式:

496 結果

Part V: Pre-Compliance EMC Tested Binary Input Module, TI design TIDA-00847

日期:
2018年 6月 4日

時間長度:
06:21
Introduction to Binary input Architecture and details of TIDA-00847 TI design

SAR Reference Input – The CDAC

日期:
2017年 4月 14日

時間長度:
09:58
The video provides insight into the origin of transient current pulses on the reference input of the SAR ADC.

Synchronization of High Speed Multichannel JESD204B Compliant Clocks Part 1

日期:
2018年 7月 17日

時間長度:
07:50
Learn about the high speed multi-channel clocking requirements and challenges.

Precision DACs (<=10MSPS) – Learning center

The Precision DAC Learning Center is a collection of technical content that will help guide you through the precision DAC design process.

How to synchronize high speed multi-channel clocks?

This training explains how to synchronize high speed multi-channel clocks used in high-speed end equipment with multi-channel transceiver system.

Synchronization of High Speed Multichannel JESD204B Compliant Clocks Part 2

日期:
2018年 7月 25日

時間長度:
09:56
Learn about the JESD204B compliant high speed multichannel synchronized clocking architecture

Synchronization of High Speed Multichannel JESD204B Compliant Clocks Part 3

日期:
2018年 7月 25日

時間長度:
11:22
Learn about the high channel count clocking solution.

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part1

日期:
2018年 8月 7日

時間長度:
15:31
ADC 錯誤來源:涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part3

日期:
2018年 8月 7日

時間長度:
16:22
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part4

日期:
2018年 8月 7日

時間長度:
07:54
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part2

日期:
2018年 8月 7日

時間長度:
13:06
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域part1

日期:
2018年 8月 8日

時間長度:
15:03
認識頻域-介紹 FFT 和頻域規格(例如 SNR、THD)。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域Part2

日期:
2018年 8月 8日

時間長度:
15:25
認識頻域:介紹 FFT 和頻域規格(例如 SNR、THD)。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域Part3

日期:
2018年 8月 8日

時間長度:
15:02
認識頻域:介紹 FFT 和頻域規格(例如 SNR、THD)。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域Part5

日期:
2018年 8月 8日

時間長度:
16:04
認識頻域:介紹 FFT 和頻域規格(例如 SNR、THD)。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件Part1

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
16:52
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part2

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
14:48
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part3

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
14:48
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part4

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
14:33
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part5

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
15:07
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。
496 結果
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