注意:各項之間請以逗號分隔

例如 , 06/26/2022

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排序方式:

516 結果

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part5

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
15:07
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part4

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
14:33
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part3

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
14:48
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part3

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
15:07
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件part2

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
14:48
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件Part1

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
16:52
選擇 SAR ADC 驅動器中的零組件:使用類比工程師的計算工具來選擇放大器頻寬和初始的 RC 濾波器值。運用 TINA SPICE 找出最佳的 RC 值,得到經過最佳化的電路 AC 與 DC 效能。動手操作實驗將比較從採用適當設計和不適當設計之電路中所測到的效能。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 參考驅動器中的零組件Part4

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
06:19
選擇 SAR ADC 參考驅動器中的零組件:介紹參考規格,展示使用含高頻寬緩衝區輸出之參考的重要性。涵蓋完整的參考緩衝區設計。動手操作實驗將展示使用低頻寬和高頻寬參考緩衝區兩者的不同影響。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 參考驅動器中的零組件Part2

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
14:42
選擇 SAR ADC 參考驅動器中的零組件:介紹參考規格,展示使用含高頻寬緩衝區輸出之參考的重要性。涵蓋完整的參考緩衝區設計。動手操作實驗將展示使用低頻寬和高頻寬參考緩衝區兩者的不同影響。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 選擇 SAR ADC 參考驅動器中的零組件Part1

日期:
2018年 8月 10日

時間長度:
15:59
選擇 SAR ADC 參考驅動器中的零組件:介紹參考規格,展示使用含高頻寬緩衝區輸出之參考的重要性。涵蓋完整的參考緩衝區設計。動手操作實驗將展示使用低頻寬和高頻寬參考緩衝區兩者的不同影響。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域Part5

日期:
2018年 8月 8日

時間長度:
16:04
認識頻域:介紹 FFT 和頻域規格(例如 SNR、THD)。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域Part3

日期:
2018年 8月 8日

時間長度:
15:02
認識頻域:介紹 FFT 和頻域規格(例如 SNR、THD)。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域Part2

日期:
2018年 8月 8日

時間長度:
15:25
認識頻域:介紹 FFT 和頻域規格(例如 SNR、THD)。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- 認識頻域part1

日期:
2018年 8月 8日

時間長度:
15:03
認識頻域-介紹 FFT 和頻域規格(例如 SNR、THD)。涵蓋頻疊和去頻疊濾波器。動手操作實驗涵蓋頻疊測量及去頻疊濾波器的設計。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part4

日期:
2018年 8月 7日

時間長度:
07:54
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part3

日期:
2018年 8月 7日

時間長度:
16:22
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part2

日期:
2018年 8月 7日

時間長度:
13:06
ADC 錯誤來源: 涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

TI 精密實驗室 ADC Tech Day 台灣場- ADC 錯誤來源part1

日期:
2018年 8月 7日

時間長度:
15:31
ADC 錯誤來源:涵蓋系統偏移和增益錯誤,以及簡易的兩點校正法。說明可從錯誤中挖掘出的統計資料,以及相關的產品資料規格。涵蓋 ADC、放大器,以及參考雜訊和用於計算及模擬這些雜訊的方法。動手操作實驗將比對模擬結果和實測結果。

TI 用於高速訊號數位化系統的參考設計 - 2

日期:
2020年 4月 12日

時間長度:
21:17
本課程分為三大部分:高速訊號數位化方塊圖概觀、用於高速數位化訊號的工業系統以及設計的考量:變壓器或可變增益放大器、功率雜訊、交錯處理。

TI 用於高速訊號數位化系統的參考設計 - 1

日期:
2020年 4月 12日

時間長度:
18:24
本課程分為三大部分:高速訊號數位化方塊圖概觀、用於高速數位化訊號的工業系統以及設計的考量:變壓器或可變增益放大器、功率雜訊、交錯處理。

TI 最新多通道电感式传感技术入门

日期:
2015年 10月 10日

時間長度:
04:31
Chris 介绍了 TI 最新多通道 LDC 设备的功能与优点,以及如何设置简易的评估模块以快速进行原型设计。
516 結果
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